LEEM-3 apparat til kortlægning af elektrisk felt

Kort beskrivelse:

Inden for ingeniørteknologi er det ofte nødvendigt at kende fordelingen af ​​det elektriske felt i elektrodesystemet for at kunne studere bevægelsesloven for elektroner eller ladede partikler i det elektriske felt. For eksempel, for at studere fokusering og afbøjning af elektronstrålen i oscilloskoprøret, er det nødvendigt at kende fordelingen af ​​det elektriske felt i elektroden i oscilloskoprøret. I elektronrøret skal vi studere indflydelsen af ​​introduktionen af ​​nye elektroder på elektronernes bevægelse, og vi skal også kende fordelingen af ​​det elektriske felt. Generelt kan man bruge analytiske metoder og simuleringseksperimenter for at finde ud af fordelingen af ​​det elektriske felt. Men kun i nogle få enkle tilfælde kan fordelingen af ​​det elektriske felt bestemmes ved hjælp af analytiske metoder. For generelle eller komplekse elektrodesystemer bestemmes den normalt ved hjælp af simuleringseksperimenter. Ulempen ved simuleringseksperimenter er, at præcisionen ikke er høj, men for generelt ingeniørdesign kan den opfylde kravene.