LCP-25 eksperimentel ellipsometer

Kort beskrivelse:

Det manuelle elliptiske polarimeter bruger ekstinktionsmetoden til at måle filmens tykkelse og brydningsindeks og regulerer manuelt afvigelsen og afvigelsesvinklen i testprocessen. Ellipsometri er meget anvendt til måling af dielektrisk tyndfilm på fast substrat. I metoden til måling af filmens tykkelse kan den måles med den tyndeste og højeste præcision.

Send e-mail til os

Produktdetaljer

Produktmærker

Specifikationer

Beskrivelse	Specifikationer
Måleområde for tykkelse	1 nm ~ 300 nm
Indfaldsvinkelområde	30º ~ 90º, Fejl ≤ 0,1º
Polarisator og analysators skæringsvinkel	0º ~ 180º
Diskvinkelskala	2º pr. skala
Min. aflæsning af Vernier	0,05º
Optisk centerhøjde	152 mm
Arbejdstrindiameter	Φ 50 mm
Samlede dimensioner	730x230x290 mm
Vægt	Cirka 20 kg